加速寿命试验小吕 手机：15021194623 QQ：1358842625
加速寿命试验(ALT)只对元器件、材料和工艺方法进行，用于确定元器件、材料及生产工艺的寿命。其目的不是暴露缺陷，而是识别及量化在使用寿命末期导致产品损耗的失效及其失效机理。有时产品的寿命很长，为了给出产品的寿命期，加速寿命试验必须进行足够长的时间。
加速寿命试验(ALT)是基于如下假设：即受试品在短时间、高应力作用下表现出的特性与产品在长时间、低应力作用下表现出来的特性是一致的。为了缩短试验时间，采用加速应力，即所谓高加速寿命试验(HALT)。
加速寿命试验(ALT)提供了产品预期磨损机理的有价值数据，这在当今的市场上是很关键的，因为越来越多的消费者对其购买的产品提出了使用寿命要求。估计使用寿命仅仅是加速寿命试验的用处之一。它能使设计者和生产者对产品有更全面的了解，识别出关键的元器件、材料和工艺，并根据需要进行改进及控制。另外试验得出的数据使生产厂商和消费者对产品有充分的信心。
加速寿命试验方法有三种：
恒定应力加速寿命试验、（材料和元器件）
步进应力加速寿命试验、（元器件）
序进应力加速寿命试验 （材料）
将一定数量的样品分成几组，对每组施加一个高于额定值的固定不变的应力，在达到规定失效数或规定失效时间后停止，称为恒定应力加速寿命试验（以下简称恒加试验）；应力随时间分段增强的试验称步进应力加速寿命试验；应力随时间连续增强的试验称为序进应力加速寿命试验。序加试验可以看作步进应力的阶梯取很小的极限情况。
加速寿命试验目的
1、利用较短的时间，少量的样品估计高可靠器件的可靠性水平，用外推法快速预测器件在额定或实际使用条件下的失效率。
2、短时间提供试验结果，检验器件设计、工艺的改进效果，比较不同工艺和器件结构的利弊。
3、短时间暴露器件或电路的失效形式，结合失效分析、了解失效机理，纠正前期设计。
4、合理地制定筛选条件和试验规范提供依据。
