一、仪器介绍
XPH-400系列透射型偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子等专业*常用的专业实验仪器。该仪器通过光学与电子显微镜配合使用，可在微观上观察其熔化、升华、结晶过程中的状态和各种变化。
仪器采用人性化设计，自动化程度高、操作简单、技术先进、性能优秀、结构新颖可靠，属于该领的领先水平产品。仪器可供广大用户作单偏光观察、正交偏光观察、锥光观察以及显微摄影，同时观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化，控温装置。本系统配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件，具有可扩展性，可连接计算机和数码相机对图片进行保存、编辑和打印，是一组具有较完备功能和良好品质的新型产品。
二、显微镜技术参数
名称
规格
总放大倍数
40X---600X
无应力消色差物镜
4X/0.1
10X/0.25
20X/0.40
40X/0.65弹簧
60X/0.75弹簧
目镜
10X十字目镜
10X分划目镜
试片
石膏1λ试片
云母1/4λ试片
石英楔子试片
测微尺
0.01mm
滤色片
蓝色
镜筒
三目观察
三、加热台技术参数
1、工作温度：室温至300℃
2、起始温度设定速率：50℃至300℃不大于12min
300℃至50℃不大于15min
3、仪器温度*小读数：0.1℃
4、加热台温度控制准确度：室温-200℃时±0.5℃、200-320℃时±1℃
5、起始温度设定准确度：±1℃
6、线性升降温速率（℃/min）：0.2-0.5-1-1.5-2-3-4-5(共八档)
7、线性升温速率偏差：±10%
8、降温速率控制：自带微小风扇通过设置预置温度来减小降温速率
9、样品移动：样品可以手动通过载玻片小范围移动便于观察.
10、加热体方式：上面板与下面板同时加热(样本放在两面板中间)
11、温度记录方式：可记录初熔、终熔温度
温度超过100℃时40X的物镜工作距离太近易损坏，建议使用长工作距离的20X物镜
四、系统组成
电脑型偏光熔点测定仪(XPH-400E)：
1、偏光显微镜 2、专用适配镜 3、彩色摄像器4、A/D图像采集卡5、热台
数码型偏光熔点测定仪(XPH-400Z)：
1、偏光显微镜 2、数码适配镜 3、数码相机 4、热台
五、总放大参考倍数
电脑型（XPH-400E型）：100--2600倍
数码型（XPH-400Z型）：100--2000倍
偏光熔点测定仪 XPH-400E
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