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F-P扫描干涉仪FPSI-532-P75激光模式(纵模)分析*激光光谱分析

  • 价格:12800.00元
  • 起订量:1
邵中兴  
联系方式:
『杭州法珀激光科技有限公司』进入公司网站

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产品详情
  • 品牌/型号:法珀激光/FPSI-532-P75
  • 类型:激光扫描干涉仪
  • 测量范围:工作波长532nm
  • 测量分辨率:精细常数大于50
  • 最近工作距离:自由光谱范围75GHz(mm)㎜
  • 用途:分析、监测在研的窄线宽(单频)Nd:YAG激光纵模动态变化

技术参数:

干涉仪规格:75GHz  (平行平板)                

适用波长:532nm

精细常数:> 50

扫描周期:5 - 100Hz

扫描波形:锯齿波/三角波(0 - 350V) 

应用领域:

分析、监测在研的窄线宽(单频)Nd:YAG激光纵模动态变化 

 

FP SCANNING INTERFEROMETER

SPECIFICATIONS

Wavelengths             532nm

Free Spectral Range   75 GHz(parallel plates)

Finesses                   50(for parallel plates mode)     

Scanning Period         0.2 - 0.01Sec

Scanning waveforms  Saw wave / Triangle

APPLICATIONS

For Nd:YAG(with KTP) lasers. 

 

产品特色:

1、干涉仪接收器一体化,免维护;

2、扫描波形可选,增加了实验对比参考内容;

 

仪器主要清单:

1、光学头;2、驱动器;3、其他附件;

 

产品特色:

1、干涉仪接收器一体化,免维护;

2、扫描波形可选,增加了实验对比参考内容;

 

产品新增特色:驱动器新增手动步进控制。干涉仪腔长可以按照nm级进行步进调节。

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